检测仪器
热场发射扫描电子显微镜(SEM)
发布时间:2022-04-14


仪器名称

热场发射扫描电子显微镜

仪器型号

JSM 7610F

放置部门

物质分中心

放置地点

过程大厦A座108房间

管 理 员

何明明

设备原值

190万元

联系电话

010-82544924

Email

mmhe@ipe.ac.cn

功能

形貌观察:金属、陶瓷、半导体、矿物和纳米级一维、二位、三维材料的表面、断面形貌观察;纳米材料显微结构、尺寸分析;材料微结构和相分布观察。是进行样品纳米级图像显微分析与微区化学成分分析的理想选择。

技术参数指标

加速电压:0.01-30KV,分辨率:1.0nm(15KV)、1.3nm(1KV),束流200nA(15kV)(浸没式肖特基电子枪),样品台减速模式:可有效降低不导电样品的荷电效应:如碳材料、半导体以及聚合物。

对外服务时间及收费

对外服务时间: 周一至周五8:30—18:00,在中科院仪器平台上预约或电话预约。 

收费标准: 电话咨询。

备注

  

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