仪器名称 | 热场发射扫描电子显微镜 | 仪器型号 | JSM 7610F |
放置部门 | 物质分中心 | 放置地点 | 过程大厦A座108房间 |
管 理 员 | 何明明 | 设备原值 | 190万元 |
联系电话 | 010-82544924 | mmhe@ipe.ac.cn | |
功能 | 形貌观察:金属、陶瓷、半导体、矿物和纳米级一维、二位、三维材料的表面、断面形貌观察;纳米材料显微结构、尺寸分析;材料微结构和相分布观察。是进行样品纳米级图像显微分析与微区化学成分分析的理想选择。 | ||
技术参数指标 | 加速电压:0.01-30KV,分辨率:1.0nm(15KV)、1.3nm(1KV),束流200nA(15kV)(浸没式肖特基电子枪),样品台减速模式:可有效降低不导电样品的荷电效应:如碳材料、半导体以及聚合物。 | ||
对外服务时间及收费 | 对外服务时间: 周一至周五8:30—18:00,在中科院仪器平台上预约或电话预约。 收费标准: 电话咨询。 | ||
备注 | |